Como todos sabemos, a umidade pode causar danos para produtos eletrônicos. Hoje, partilhamos um processo em que a umidade causa dano para capacitores, resistores, ou PCBA de iões de migração de curto-circuito.
1. O processo de migração de iões de curto-circuito.
A figura a seguir mostra o processo de migração de iões de curto-circuito:
- Existe um campo elétrico entre os condutores em ambas as extremidades do isolador.
- O eletrolítico médio no ânodo final é ionizado e migra para o cátodo, sob a ação de um campo elétrico.
- Quando os íons migram para o cátodo, a condutividade dos íons é um curto-circuito entre o ânodo e o cátodo.
2. O meio onde o íon de migração ocorre um curto-circuito.
Os principais meios de comunicação propenso a de iões de migração e de curto-circuito de PCBA são os seguintes:
- Impurezas, hidrolítica íons, etc. no PCB substrato;
- Os eletrólitos deixados pelos componentes no PCB em galvanoplastia poros que não podem ser lavados;
- De solda, cola e outras substâncias que são propensas a eletrólise durante PCBA processamento;
- Durante o uso de produtos eletrônicos, poeira, plasma de poluição, condensação, etc. acumulada no PCBA;
3. As principais medidas para prevenir a migração de iões de curto-circuito e circuito.
A principal medida para evitar a migração de iões de curto-circuitos é manter o circuito energizado (PCBA) de produtos eletrônicos secas e à poeira.
Portanto, as medidas comuns são os seguintes:
- A utilização de três a prova de pintura para proteção de PCBA da poeira e da umidade é extremamente eficaz medida.
- Em algumas aplicações onde a alta umidade ou grandes diferenças de temperatura causa a condensação, é a medida mais segura para usar um totalmente encapsulado placa de circuito.
- Finalmente, equipando-se com uma desumidificação do aquecedor, é também uma medida viável. No entanto, para totalmente selado cavidades acima IP67, desumidificação aquecedores são utilizados. Na fase inicial de aquecimento, a umidade do ar dentro da cavidade pode ser reduzida. Portanto, durante alguns períodos de tempo, não pode desempenhar um papel na prevenção de curto-circuito de iões de migração.
















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