Som vi alle ved, luftfugtighed, kan forårsage skader på elektroniske produkter. I dag deler vi en proces, hvor luftfugtighed forårsager skade på kondensatorer, modstande, eller PCBA–ion migration kortslutning.
1. Processen med ion migration kortslutning.
Nedenstående figur viser processen af ion-migration kortslutning：
- Der er et elektrisk felt mellem de ledere, der i begge ender af isolatoren.
- Den elektrolytiske mellemstore ved anoden ende er ioniseret og migrerer til katoden under indvirkning af et elektrisk felt.
- Når ioner migrere til katoden, ledningsevne af ioner er kortsluttet mellem anoden og katoden.
2. Det medium, hvor ion-migration kortslutning opstår.
De vigtigste medier tilbøjelige til at ion migration og kortslutning på PCBA er som følger：
- Urenheder, hydrolytisk ioner, osv. på PCB substrat；
- De elektrolytter, der er efterladt af komponenter på PRINTET i galvanisering porer, der ikke kan vaskes；
- Lodde, lim og andre stoffer, som er tilbøjelige til elektrolyse under PCBA behandling；
- Under brug af elektroniske produkter, støv, plasma-forurening, kondens osv. akkumuleret på PCBA；
3. De vigtigste foranstaltninger til at forhindre ion migration og kortslutning.
Den vigtigste foranstaltning til at forhindre ion migration kortslutninger er at holde den strømførende kredsløb (PCBA) af elektroniske produkter, der tør og støvtæt.
Derfor, den fælles foranstaltninger er som følger：
- Brugen af tre-bevis maling for at beskytte PCBA fra støv og fugt er en yderst effektiv foranstaltning.
- I nogle applikationer, hvor høj luftfugtighed eller store temperatur forskelle forårsage kondens, det er den sikreste foranstaltning til at bruge et fuldt indkapslet kredsløb.
- Endelig, ved at udstyre med en affugtning varmelegeme, det er også en mulig foranstaltning. Men for fuldt forseglet hulrum over IP67, affugtning varmeapparater er brugt. I den indledende fase af varme, luftfugtigheden inde i hulrummet kan ikke reduceres. Derfor, i løbet af nogle perioder af tid, det kan spille en rolle i at forhindre kortslutning af ion-migration.
Hubei Offentlige Netværk Sikkerhed Nej 42018502006527